/ AFM

MICROSCOPE À FORCE ATOMIQUE (AFM)

La microscopie AFM est une technique d’imagerie de surface très utilisée en raison de sa haute résolution et de la diversité des matériaux qu’elle peut cartographier (isolant, conducteur, biologique, etc).

Pour obtenir une image, une sonde mécanique balaie la surface de l’échantillon pendant que son déplacement vertical est contrôlé, en général, par des techniques optiques. Le déplacement vertical de la sonde découle des forces d’attraction entre la surface et le bout de la sonde. En plus de renseigner sur la topographie de surface, l’AFM permet de mesurer la rugosité et donne aussi une information qualitative sur la viscoélasticité de surfaces hétérogènes. L’AFM sert par exemple à évaluer la qualité d’une plaquette (wafer) en électronique ou l’impact de la rugosité de surface sur l’adhésion d’un matériau.

Utilisation

-Imagerie de surface

-Topographie en 3D

-Mesure de la rugosité

 

 

Avantages:

-Excellente résolution
-Imagerie sous atmosphère (échantillons sales ou dans un liquide)
-La conductivité de l’échantillon n’a pas d’importance
-Permet de mesurer la rugosité

Désavantages:

-Pas d’information sur la composition chimique de l’échantillon

-Matériaux électroniques
-Biotechnologies
-Chimie des surfaces

Manufacturier : Digital Instruments

Modèle : Multimode, Dimension 3100 (2x), Enviroscope

Manufacturier : Topometrix

Modèle : Discoverer

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