/ Microtomographie rayon X (MicroCT)

Imagerie tridimensionnelle de matériaux par tomographie rayons X de 40 à 160kV. Résolutions de 0.3 à 30 microns selon les échantillons. Grace aux techniques de segmentation d’images, il est possible d’obtenir des informations quantitatives sur la présence des différentes phases dans la matière, et créer des animations de l’objet observé.

Grace aux objectifs rayons-X spécialisés le XRadia Versa permet d’obtenir des images de résolutions supérieures.

Équipement et détails

Modèle: Zeiss X-radia Versa

Matériaux analysables: Solides
Type d’information obtenue: visualisation 3d quantitative ou non quantitative

Plage d’énergie : De 40 à 160 kV

Objetifs disponibles: 0.4X, 4X, 10X, 20X et 40X
Résolution: jusqu’à 0.3 micron de dimension de pixel d’imagerie.

Analyse d’images: le logiciel Dragonfly Pro de Object Research Systems est disponible pour l’analyse des résultats.
Dimensions d’échantillons: de quelques mm à un maximum de 10 cm

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