Description

La microscopie AFM est une technique d’imagerie de surface très utilisée en raison de sa haute résolution et de la diversité des matériaux qu’elle peut cartographier (isolant, conducteur, biologique, etc). Une sonde mécanique balaie la surface de l’échantillon pendant que son déplacement vertical est contrôlé, en général, par des techniques optiques. Le déplacement vertical de la sonde découle des forces d’attraction entre la surface et le bout de la sonde. En plus de renseigner sur la topographie de surface, l’AFM permet de mesurer la rugosité et donne aussi une information qualitative sur la viscoélasticité de surfaces hétérogènes. L’AFM sert par exemple à évaluer la qualité d’une plaquette (wafer) en électronique ou l’impact de la rugosité de surface sur l’adhésion d’un matériau.

Utilisations Imagerie de surface Topographie en 3D Mesure de la rugosité

Spécifications techniques

Résolution en profondeur :	0.01 nm
Résolution latérale :	0.1 nm
Autres caractéristiques :	Imagerie en milieu liquide et cellule électro-chimique
Manufacturier :	Digital Instruments
Modèle :	Multimode, Dimension 3100 (2x), Enviroscope
Manufacturier :	Topometrix
Modèle :	Discoverer
Manufacturier :	Autoprobe CP
Modèle :	Thermo Microscope