Des microscopes de pointe (optiques, électroniques ou à force atomique) permettent d’obtenir une image très fine de la surface d’un échantillon. Le microscope électronique à balayage (SEM) est l’instrument privilégié pour plusieurs applications en imagerie en raison de son excellente résolution. Lorsque l’échantillon est découpé par un faisceau d’ions focalisés (FIB), le SEM donne également des images en profondeur d’un matériau. Les techniques d’imagerie microscopique fournissent aussi de l’information sur les phases présentes à la surface, sa viscosité ou sa dureté. Le personnel compétent de GCM Lab et du CM2 possède une expertise dans l’analyse microscopique de plusieurs types d’échantillons comme les métaux, les matériaux électroniques, la céramique, etc. Nous réalisons nos analyses avec de l’équipement moderne offrant des résolutions jusqu’à l’échelle du nanomètre.
Techniques de mesure
